Si标准品(SRM640)硅粉NIST产品

Si标准品(SRM640)系列概述

 SRM 640 是由美国国家标准与技术研究院（NIST）开发的多晶硅粉末标准品，用于X射线粉末衍射仪（XRD）的校准，主要针对**衍射线位置（2θ角）和线形（峰宽）**的标准化。迭代版本：SRM 640c → SRM 640f → SRM 640g（最新批次）。 

 核心认证值：22.5°C下的晶格参数 0.5431144 nm ± 0.000008 nm（溯源于国际单位制SI）。 

 2. Si标准品(SRM640)制备方法与材料特性 

（1）原料与加工工艺原料来源：超高纯度本征硅晶锭（源自德国Siltronic AG）。 

 关键步骤：粉碎与研磨：采用喷射研磨技术，中值粒径 4.1 μm。 

 退火处理：1000°C氩气环境下退火2小时，消除晶格应力。 

 封装：氩气环境下装瓶（7.5g/瓶），防止吸潮13。 

 （2）均匀性与认证方法均匀性验证：通过X射线衍射（XRD）分析，相对晶格变化≤±4.8×10⁻⁸（95%置信区间）。

 认证技术：使用基本参数法（FPA）和Pawley精修分析衍射数据7。结合A类（统计）和B类（系统）不确定度评估。 

 3. 主要应用领域

仪器校准：Si标准品(SRM640)校准XRD设备的2θ角位置和衍射峰半高宽（FWHM）。适用于Bragg-Brentano几何衍射仪。

 科研与工业：材料科学（如硅基半导体、纳米材料表征）。化工、能源领域的晶体结构分析

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