用于校准线形的硅粉640e特性

用于校准线形的硅粉640e是美国国家标准与技术研究所(NIST)开发的一种标准参考物质，用于校准粉未衍射仪。个单位的SRM 640e由大约7.5克的硅粉未组成，该硅粉末已在氣气下装瓶以保持其纯度和稳定性。该材料旨在用作确定行射线位置和线形的标准，这是粉末衍射法中的重要参数。

用于校准线形的硅粉640e的使用有助于确保粉未行射测量的准确性和可靠性，这对包括材料科学、制药和地质学在内的广泛应用至关重要XRD(X射线行射)内标用的高纯硅粉在X射线行射分析中扮演着重要的角色。以下是关于XRD内标用高纯硅粉的详细信息和特点.:

纯度要求:

高纯硅粉作为XRD内标，其纯度要求非常高。这是因为任何杂质都可能影响X射线行射图谱的准确性和可靠性高纯硅粉应几乎不含有其他杂质元素，如铁、铝、钙等，以确保其在XRD分析中的稳定性和准确性。

物理性质:

高纯硅粉应具有均匀的粒度分布，以保证在XRD样品制备过程中的均性和一致性。硅粉的结晶度也是一个重要的物理性质，因为结晶度会影响X射线衍射图谱的清晰度和分辨率

XRD内标作用:

在XRD分析中，高纯硅粉作为内标物质，其行射峰的位置和强度是已知的，因此可以作为参考来校准和比较其他物质的行射图谱。

通过将高纯硅粉的行射峰与其他物质的衍射峰进行比较，可以准确分析出样品中其他物质的含量和晶体结构。

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